测试项目：

场发射扫描电子显微镜FE-SEM

仪器型号：

日立SU8220场发射扫描电子显微镜

美国FEI Inspect F50场发射扫描电子显微镜

制样要求：

1 粉末、液体、薄膜、块体均可测，粉体10mg以上，薄膜或块体长宽高小于25px。

2 制样说明：粉体样品直接粘到导电胶上测试；液体样品，一般随机选择滴到导电胶、硅片或铝箔上，如有要求请提前说明；薄膜或块体请标明测试面。

注意事项：

1. 每样品提供8张左右照片，需要更多请提前沟通。

2. 美国FEI Inspect F50场发射扫描电子显微镜拍摄不超过5万倍，最小标尺1um，日立SU8220场发射扫描电子显微镜拍摄不超过50万倍,最小标尺200nm，清晰度和样品具体情况有关。

测试数据示例：

美国FEI Inspect F50场发射扫描电子显微镜

日立SU8220场发射扫描电子显微镜