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X射线荧光光谱仪测试XRF
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详细介绍

测试项目:

X射线荧光光谱仪测试XRF

仪器型号:

荷兰帕纳科panalytical Axios FAST 同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

设备性能:

1. 分析元素含量范围 1ppm99.99%(其测试下限最高可以达到1ppm,因样品不同而指标有所不同)

2. 仪器测量精度 :小于0.05%(测试含量大于97%的样品)

3. 同时分析元素能力 :几十种元素可同时分析。

4. 测试样品类型 :固体、粉末、液体样品均可以测试,对样品的几何形状几乎无限制。

5. 可分析元素 9O()92U()

制样要求:

1.样品可为粉末、块状、薄膜、液体。A粉末样品量>0.1gB块状、薄膜样品:长×宽10×10mm300×300mm,高<100mm,一定要标明测试面!液体样品无挥发性、腐蚀性。

2.试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。

注意事项:

1. 分析元素含量范围 1ppm99.99%(其测试下限最高可以达到1ppm,因样品不同而指标有所不同)

2.可分析元素 9O()92U()

测试数据示例:

C[7QA~DYS{EVNRY}{_KJOTM