测试项目：

X射线光电子能谱仪测试XPS

仪器型号：

赛默飞 EscaLab 250Xi

设备性能：

1 极限能量分辨率为0.43eV;

2 分析室真空度优于5×10-10 mbar;

3 能量分析范围为0-5000eV;

4 通过能范围为1-400eV；

5 固体样品的表面成分分析、化学态分析，取样深度一般约为1-10nm,其中金属材料为0.5-3nm，无机材料2-4nm，有机高聚物5-10nm。

制样要求：

1.样品状态：可为粉末、块状、薄膜、液体样品。A粉末样品>10mg。B块状、薄膜样品尺寸尽量小于5*5*3mm。C 液体品样须滴在铝箔或硅片等载体上烘干形成液膜，一般重复3-5次烘干滴液差不多即可测不到基底。

2.材料必须是无放射性、无毒性、无挥发性物质。

注意事项：

1.元素窄谱如果有特殊要求请备注，如果没有特殊说明，默认测试最强峰，如果最强峰和其他元素的峰有重叠，默认测试次强峰。

2.元素的价态及半定量分析，小于1%的元素可能测不出明显信号。

3.XPS为点测，测试结果代表测试点的实际情况。

测试数据示例：